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                      首頁 > 產品中心 > 涂裝檢測 > X射線測厚儀 > FISCHERSCOPE XDL210X-RAY鍍層測厚儀 射線分析儀

                      X-RAY鍍層測厚儀 射線分析儀

                      簡要描述:X-RAY鍍層測厚儀或稱射線分析儀,德國*,全稱為FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 210,可以測量電鍍層例如:銅、鎳、鉻、鋅、錫、鈦、金、銀或者合金比如鋅鎳合金等等的鍍層厚度以及成份,還可以進行電解液(電鍍溶液)的測成份分析

                      • 產品型號:FISCHERSCOPE XDL210
                      • 廠商性質:經銷商
                      • 更新時間:2021-07-02
                      • 訪  問  量:5884
                      產品詳情

                      X-RAY鍍層測厚儀又名射線分析儀 菲希爾x-ray射線鍍層測厚儀鍍層分析儀 x射線多鍍層測厚儀

                      FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 210
                      技術參數表如下:
                      菲希爾x-ray射線鍍層測厚儀
                      FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 210
                      X 射線熒光光譜儀,采用手動或自動方式,
                      測量和分析印刷線路板、防護及裝飾性鍍層
                      及大規模生產的零部件上的鍍層。
                      FISCHERSCOPE X-RAY XDL
                      2 FISCHERSCOPE X-RAY XDL
                      菲希爾x-ray射線鍍層測厚儀簡介
                      FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL®是一款應用廣泛的能量色散型x 射線光譜儀。它是從
                      大眾認可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型儀器上發展而來的。與上一代相類
                      似,它尤其適合無損測量鍍層厚度及材料分析,同時還能全自動測量大規模生產的零
                      部件及印刷線路板。
                      比例接收器能實現高計數率,這樣就可以進行高精度測量。由于采用了Fischer 基本
                      參數法,無論是鍍層系統還是固體和液體樣品,都能在沒有標準片的情況下進行分析
                      和測量。zui多可同時測量從氯(17)到鈾(92)中的24 種元素。
                      XDL X 射線光譜儀有著良好的長期穩定性,這樣就不需要經常校準儀器。
                      XDL 系列儀器特別適用于客戶經行質量控制、進料檢驗和生產流程監控。
                      菲希爾x-ray射線鍍層測厚儀典型的應用領域有:
                      ?測量大規模生產的電鍍部件
                      ?測量薄鍍層,例如裝飾鉻
                      ?測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層
                      ?全自動測量,如測量印刷線路板
                      ?分析電鍍溶液
                      菲希爾x-ray射線鍍層測厚儀設計理念
                      FISCHERSCOPE X-RAY XDL 設計為界面友好的臺式測量儀器系列。我們會根據樣
                      品平臺的運行模式以及固定或者可調節的Z 軸系統來設定不同型號的儀器以滿足實際
                      應用的需求。
                      XDL210:平面樣品平臺,固定的Z 軸系統
                      高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強大的放大功能,可以定位測量位置。通過視頻
                      窗口,還可以實時觀察測量過程和進度。配有馬達驅動X-Y 樣品平臺的儀器還配備了
                      激光點,可以輔助定位并快速對準測量位置。
                      測量箱底部的開槽專為大而扁平的樣品設計,可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。
                      例如大型的線路板。
                      所有的操作,測量數據的計算,以及測量數據報表的清晰顯示都是通過強大而界面友
                      好的WinFTM®軟件在電腦上完成的。
                      XDL 型光譜儀是安全而保護全面的測量儀器,型式許可符合德國“Deutsche
                      Röntgenverordnung-RöV”法規規定。
                      XDL
                      3
                      菲希爾x-ray射線鍍層測厚儀通用規范
                      用途
                      能量色散X 射線熒光光譜儀 (EDXRF) 用來測量薄鍍層和微小結構,分析合金和微量
                      組分。
                      元素范圍zui多同時測量從氯(Cl 17)到鈾(U 92)之間的24 種元素
                      設計理念臺式儀器,測量門向上開啟
                      測量方向從上到下
                      X 射線源
                      X 射線源帶鈹窗口的鎢管
                      高壓三種高壓: 30 kV,40 kV,50 kV,可調整
                      孔徑(準直器) Ø 0.3 mm (可選:圓形Ø 0.1 mm; Ø 0.2 mm;長方形0.3 mm x 0.05 mm)
                      測量點
                      取決于測量距離及使用的準直器大??;實際的測量點大小與視頻窗口中顯示的*。
                      zui小的測量點大小約Ø 0.16mm.
                      測量距離,如測量腔體內部
                      0 ~ 80 mm,未校準范圍,使用保護的DCM 功能
                      0 ~ 20 mm,已校準范圍,使用保護的DCM 功能
                      X 射線探測
                      X 射線接收器比例接收器
                      樣品定位
                      視頻顯微鏡
                      高分辨 CCD 彩色攝像頭,用于查看測量位置
                      手動調焦或自動聚焦
                      十字線刻度和測量點大小經過校準
                      測量區域照明亮度可調
                      激光點用于定位樣品
                      放大倍數 20x ~ 180x (光學變焦: 20x ~ 45x; 數字變焦: 1x, 2x, 3x, 4x)
                      樣品臺 XDL 210
                      設計固定式樣品平臺
                      zui大移動范圍 -
                      X/Y 平臺移動速度 -
                      X/Y 平臺移動重復精度 -
                      Z 軸移動范圍 -
                      可用樣品放置區域 463 x 500 mm
                      樣品zui大重量 20 kg
                      樣品zui大高度 155/90/25 mm
                      激光定位點 -
                      FISCHERSCOPE X-RAY XDL
                      鍍層厚度材料分析顯微硬度材料測試
                      電氣參數
                      電壓,頻率 AC 115 V AC 230 V 50 / 60 Hz
                      功率zui大 120 W (不包括計算機
                      保護等級 IP40
                      儀器規格
                      菲希爾x-ray射線鍍層測厚儀外部尺寸x x [mm]570 x 760 x 650
                      重量 XDL21090 kg;XDL22095 kg;XDL230105 kg;XDL240120 kg
                      內部測量室尺寸x x [mm]: 460 x 495 (參考“樣品zui大高度”部分的說明
                      環境要求
                      操作溫度 10°C – 40°C / 50°F – 104°F
                      儲藏或運輸溫度 0°C – 50°C / 32°F – 122°F
                      空氣濕度 ≤ 95 %,無結露
                      計算系統
                      計算機帶擴展卡的計算機系統
                      軟件
                      標準: WinFTM® V.6 LIGHT
                      可選: WinFTM® V.6 BASIC,PDM,SUPER
                      執行標準
                      CE 合格標準 EN 61010
                      X 射線標準 DIN ISO 3497 ASTM B 568
                      型式許可
                      安全而保護全面的測量儀器,型式許可符合德國“Deutsche Röntgenverordnung-RöV
                      法規規定。
                      如有特殊要求,可于Fischer 磋商,定制特殊的XDL 型號。更多選項和,請致電蘇州圣光儀器有限公司。
                       

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